課程內(nèi)容：

一、硬件測(cè)試概述
　①硬件測(cè)試的目的
　②硬件測(cè)試的意義
　③目前業(yè)界硬件測(cè)試的開(kāi)展情況
　④在企業(yè)生產(chǎn)價(jià)值鏈中的地位
　⑤硬件測(cè)試對(duì)公司形象和公司發(fā)展的重要性

二、測(cè)試準(zhǔn)備
　①檢視
　②FMEA（故障模式影響分析）
　③故障處理
　④測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試用例

三、硬件測(cè)試種類(lèi)與操作
　①指標(biāo)測(cè)試
　②功能測(cè)試
　③容限測(cè)試
　④容錯(cuò)測(cè)試—FIT
　⑤長(zhǎng)時(shí)間驗(yàn)證測(cè)試
　⑥可靠性數(shù)據(jù)預(yù)計(jì)
　⑦一致性測(cè)試
　⑧評(píng)審

四、硬件測(cè)試的級(jí)別
　①黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試
　②單元測(cè)試
　③系統(tǒng)測(cè)試

五、可靠性測(cè)試
　①EMC
　②環(huán)境
　③安規(guī)
　④老化

六、測(cè)試問(wèn)題
　①測(cè)試問(wèn)題的確認(rèn)
　②測(cè)試問(wèn)題的定位
　③測(cè)試問(wèn)題反饋方式和流程
　④測(cè)試問(wèn)題跟蹤和解決流程

七、測(cè)試效果評(píng)估
　①測(cè)試報(bào)告
　②評(píng)審歸檔
　③案例和checklist
　④測(cè)試方法總結(jié)
　⑤遺留問(wèn)題處理
　⑥市場(chǎng)規(guī)模應(yīng)用跟蹤
　⑦產(chǎn)品故障率統(tǒng)計(jì)

八、硬件測(cè)試參考的通信技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
　①通信技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)
　②通信標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)試的指導(dǎo)意義

九、測(cè)試規(guī)范制定
　①建立規(guī)范的重要性
　②需要哪些規(guī)范

　③規(guī)范的制定準(zhǔn)則

十、測(cè)試人員的等級(jí)認(rèn)證

十一、SI簡(jiǎn)介
　①SI的重要性
　②學(xué)習(xí)SI的目的
　③SI的內(nèi)容
　④理想邏輯電壓波形
　⑤實(shí)際邏輯波形
　⑥數(shù)據(jù)采樣及時(shí)序的例子

十二、常見(jiàn)的SI問(wèn)題
　①信號(hào)質(zhì)量與時(shí)序的關(guān)系
　②最常見(jiàn)的三種信號(hào)問(wèn)題
　③反射
　④串?dāng)_
　⑤電源/地噪音
　⑥EMC/EMI跟SI關(guān)系
　⑦SI問(wèn)題的影響
　⑧產(chǎn)生SI問(wèn)題的地方
　⑨工藝與頻率的關(guān)系
　⑩工藝與SI的關(guān)系

十三、SI分析
　①在設(shè)計(jì)流程中的SI分析
　②前期分析
　③后期分析
　④SI工程師的重要性
　⑤SI分析原則
　⑥集中式電路和分布式電路模型
　⑦如何選擇模擬電路模型
　⑧例子

十四、電子設(shè)計(jì)中的SI問(wèn)題
　①上升時(shí)間和信號(hào)完整性
　②傳輸線的種類(lèi)
　③反射產(chǎn)生原因
　④如何消除反射
　⑤串?dāng)_產(chǎn)生原因
　⑥如何消除串?dāng)_
　⑦電源/地噪音的種類(lèi)
　⑧電源/地噪音的副作用
　⑨如何消除電源/地噪音
　⑩電源/地模型

十五、建模與仿真
　①幾種常見(jiàn)的電磁建模技術(shù)
　②好的SI仿真工具應(yīng)具備那些因素
　③常見(jiàn)的SI工具

十六、信號(hào)完整性的例子
　①舉例模型
　②SI分析
　③仿真結(jié)果
　④噪音來(lái)源及解決辦法